Dans le cadre de la célébration du 50ème anniversaire de l’ENIS, nous avons le plaisir de vous inviter à une conférence scientifique exceptionnelle intitulée “Industrial IC Test & Diagnosis: Issues & Challenges & Success Story”, animée par Dr. Aymen Ladhar, Senior Staff Engineer chez Intel Ireland et diplômé de l’ENIS.
Cet événement se tiendra le mercredi 29 octobre 2025 (14h00) à l’Amphi 4 de l’ENIS. La conférence portera sur les défis liés à l’émergence des technologies avancées telles que les transistors 3D et les applications automobiles, ainsi que les solutions de test et de diagnostic permettant d’assurer la fiabilité, la conformité ISO 26262 et l’optimisation des performances des circuits intégrés de nouvelle génération.
Dr. Ladhar partagera également son expérience professionnelle et son parcours inspirant au sein de l’industrie microélectronique internationale. Une séquence interactive sera proposée à la fin de la présentation, avec un quiz amusant offrant aux participants l’opportunité de gagner de jolis cadeaux .
Nous serions très honorés de vous compter parmi nous pour participer à cette rencontre scientifique enrichissante et célébrer ensemble ce moment fort dans l’histoire de notre école.
